Bureau

L’axe Nano-Fabrication, Instrumentation, Caractérisation et Métrologie est composé de :

Responsables

Yannick DE WILDE


Directeur de recherche CNRS,
LOA, UMR7587 CNRS, ESPCI

Peter ROSENBUSCH

SYRTE, UMR8630 Observatoire de Paris, CNRS

Dominique MAILLY


Directeur de recherche CNRS
LPN, UPR20 CNRS

Membres du bureau

Isabelle BOUCHOULE
Chargé de recherche CNRS
LCF, UMR850, Institut d’Optique, CNRS

Noël DIMARCQ
Directeur de recherche CNRS
SYRTE, UMR8630 Observatoire de Paris, CNRS

Nicolas FELTIN
Ingénieur de recherche et responsable de mission amont en Nanométrologie LNE

Sandrine ITHURRIA
Professeur assistant
LPEM, UMR8213, EPCSI, CNRS, UPMC

Philippe JOYEZ
Chercheur CEA
SPEC, URA2464 CNRS, CEA Saclay