Congrés International de Métrologie

Du 21 au 24 septembre 2015

Informations

DateDu 21 au 24 septembre 2015
LieuParis - Porte de Versaille

Le Congrès International de Métrologie du 21 au 24 septembre 2015 (CIM 2015) à Paris-Porte de Versailles avec le Salon ENOVA

Le CIM 2015 est le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires.

Ce Congrès est unique en Europe.
Il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie. Il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.

Les thématiques fortes du CIM sont présentes dans les 6 tables rondes industrielles de l’événement :

  • Les bonnes pratiques en santé
  • Transition énergétique : la métrologie relève le défi
  • L’analyse sensorielle au service de la métrologie
  • Externaliser la fonction métrologie : rêve ou réalité ?
  • Agro-alimentaire : le plus métrologique
  • Mesure et maîtrise des risques : nouvelle approche ISO 9001

Près de 180 conférences seront présentées sur des sujets très variés.
Les grands domaines techniques sont abordés : mécanique, température, dimensionnel et 3D, débit, électricité, optique … Les rappels plus généraux comme les incertitudes de mesure, l’apport des statistiques, le SI … ne sont pas oubliés. Les nouvelles préoccupations sont également présentes : la sécurité dans le secteur médical et l’agro alimentaire, les défis liés à la transition énergétique, les nanotechnologies …

Pour compléter ce panel des visites techniques à l’Observatoire de Paris, chez SOPEMEA et au LNE sont organisées.

Programme complet et inscriptions sur le site Internet de l’événement.